Artículos relacionados a Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection...

Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing (Springer Series in Reliability Engineering) - Tapa dura

 
9783030838188: Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing (Springer Series in Reliability Engineering)
Ver todas las copias de esta edición ISBN.
 
 
  • EditorialSpringer
  • Año de publicación2021
  • ISBN 10 3030838188
  • ISBN 13 9783030838188
  • EncuadernaciónTapa dura
  • Número de edición1
  • Número de páginas276
  • EditorTran Kim Phuc

Comprar nuevo

Ver este artículo

Gastos de envío: GRATIS
A Estados Unidos de America

Destinos, gastos y plazos de envío

Añadir al carrito

Los mejores resultados en AbeBooks

Imagen del vendedor

Publicado por Springer (2021)
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: 10
Librería:
booksXpress
(Bayonne, NJ, Estados Unidos de America)

Descripción Hardcover. Condición: new. Nº de ref. del artículo: 9783030838188

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 158,68
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen de archivo

Kim Phuc Tran
Publicado por Springer (2021)
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: > 20
Impresión bajo demanda
Librería:
Ria Christie Collections
(Uxbridge, Reino Unido)

Descripción Condición: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Fast Shipping from the UK. No. book. Nº de ref. del artículo: ria9783030838188_lsuk

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 162,01
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 11,72
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen de archivo

Publicado por Springer (2021)
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: > 20
Librería:
Lucky's Textbooks
(Dallas, TX, Estados Unidos de America)

Descripción Condición: New. Nº de ref. del artículo: ABLIING23Mar3113020031328

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 179,07
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 3,68
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen del vendedor

Tran, Kim Phuc (EDT)
Publicado por Springer (2021)
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: 5
Librería:
GreatBookPrices
(Columbia, MD, Estados Unidos de America)

Descripción Condición: New. Nº de ref. del artículo: 43735024-n

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 180,34
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 2,43
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen del vendedor

ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: > 20
Impresión bajo demanda
Librería:
moluna
(Greven, Alemania)

Descripción Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book introduces the latest research on advanced control charts and new machine learning approaches to detect abnormalities in the smart manufacturing process. By approaching anomaly detection using both statistics and machine learning, the book prom. Nº de ref. del artículo: 485152240

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 144,94
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 48,99
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen del vendedor

Kim Phuc Tran
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: 2
Impresión bajo demanda
Librería:
BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
(Bergisch Gladbach, Alemania)

Descripción Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book introduces the latest research on advanced control charts and new machine learning approaches to detect abnormalities in the smart manufacturing process. By approaching anomaly detection using both statistics and machine learning, the book promotes interdisciplinary cooperation between the research communities, to jointly develop new anomaly detection approaches that are more suitable for the 4.0 Industrial Revolution.The book provides ready-to-use algorithms and parameter sheets, enabling readers to design advanced control charts and machine learning-based approaches for anomaly detection in manufacturing. Case studies are introduced in each chapter to help practitioners easily apply these tools to real-world manufacturing processes.The book is of interest to researchers, industrial experts, and postgraduate students in the fields of industrial engineering, automation, statistical learning, and manufacturing industries. 276 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783030838188

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 171,19
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 23,00
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen de archivo

Publicado por Springer (2021)
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: 1
Librería:
GF Books, Inc.
(Hawthorne, CA, Estados Unidos de America)

Descripción Condición: New. Book is in NEW condition. 1.23. Nº de ref. del artículo: 3030838188-2-1

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 204,19
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen del vendedor

Kim Phuc Tran
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: 1
Librería:
AHA-BUCH GmbH
(Einbeck, Alemania)

Descripción Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book introduces the latest research on advanced control charts and new machine learning approaches to detect abnormalities in the smart manufacturing process. By approaching anomaly detection using both statistics and machine learning, the book promotes interdisciplinary cooperation between the research communities, to jointly develop new anomaly detection approaches that are more suitable for the 4.0 Industrial Revolution.The book provides ready-to-use algorithms and parameter sheets, enabling readers to design advanced control charts and machine learning-based approaches for anomaly detection in manufacturing. Case studies are introduced in each chapter to help practitioners easily apply these tools to real-world manufacturing processes.The book is of interest to researchers, industrial experts, and postgraduate students in the fields of industrial engineering, automation, statistical learning, and manufacturing industries. Nº de ref. del artículo: 9783030838188

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 174,62
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 32,99
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen de archivo

Publicado por Springer (2021)
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: > 20
Librería:
California Books
(Miami, FL, Estados Unidos de America)

Descripción Condición: New. Nº de ref. del artículo: I-9783030838188

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 221,23
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: GRATIS
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Imagen de archivo

Tran, Kim Phuc (Editor)
Publicado por Springer (2021)
ISBN 10: 3030838188 ISBN 13: 9783030838188
Nuevo Tapa dura Cantidad disponible: 2
Librería:
Revaluation Books
(Exeter, Reino Unido)

Descripción Hardcover. Condición: Brand New. 275 pages. 9.25x6.10x0.87 inches. In Stock. Nº de ref. del artículo: x-3030838188

Más información sobre este vendedor | Contactar al vendedor

Comprar nuevo
EUR 219,64
Convertir moneda

Añadir al carrito

Gastos de envío: EUR 11,74
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Existen otras copia(s) de este libro

Ver todos los resultados de su búsqueda